自德國物理學(xué)家倫琴1895年發(fā)現(xiàn)X射線以來,利用X射線與物質(zhì)的相互作用,誕生了多種材料分析測試手段,例如X射線衍射分析、X射線熒光分析、X射線光電子能譜分析及X射線俄歇能譜分析等。這其中,X射線衍射方法是確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、定性和定量物相分析、點陣常數(shù)精確測定、應(yīng)力測定、晶體取向測定的有效方法。
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